AI非破壊検査 / AI異常検知

「モダリティ×AI」で実現するAI非破壊検査・AI異常検知

 非破壊検査 

RGB、NIR、X線当の「モダリティ×AI」で内部上体を分析する事で、従来技術の外観検査では難しい欠陥、異常を検知可

検出対象の正常データを用意するだけの良品学習で、多品種検査に簡易にご利用可

お客様の既設センサーをそのままご利用可

セキュアにご利用頂けるようお客様環境においてお客様ご自身でお試し頂く事も可

モダリティ適応モデル×良品学習により性能を頑健化 / 簡易に多品種検査可

活用イメージ

 

超音波、X線による半導体の検査工程に

 

RGB×NIRによる食品の異物混入検査に

 異常検知 

高調波×三相電流による初期故障検知

  • ケーブルにクランプするだけの簡単設置

  • 高調波のトレンド分析による初期故障の検知可

  • 制御盤への後付け可

  • 外乱振動が多い環境や設置が難しい機械環境でも対応可

環境要因を除外した初期漏電検知

  • 温度、湿度、運転状態を考慮した漏電トレンドを見える化

  • 初期漏電を検知、リスク分類し、推奨対応を提案

  • ケーブルにクランプするだけの簡単設置

 仕様情報 

お客様環境に移植させて頂きます。詳細はお問合せください。

 ※ 提供機能によって必要となる動作環境は異なります。

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